一、主要特點(diǎn)

能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。主要元器件均選用品牌(如歐姆龍，，ABB等)，有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓、過流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)。

二、設(shè)備優(yōu)勢：

1、TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù):

電弱點(diǎn)測試儀大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理，對(duì)于擊穿放電過程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)。

2、方便的試驗(yàn)方式:

本試驗(yàn)儀器輸入交流電壓與直流電壓，試驗(yàn)過程通過設(shè)備自帶的工控機(jī)進(jìn)行控制。實(shí)時(shí)觀測電弱點(diǎn)數(shù)量，試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)速與長度、試驗(yàn)電壓與試驗(yàn)電流等參數(shù)。

3、伺服電機(jī)配合編碼器同步運(yùn)行保證精準(zhǔn)速度控制:

本試驗(yàn)儀器采用伺服電機(jī)控制收卷速度。伺服電機(jī)程序上采用閉環(huán)控制，同時(shí)配合數(shù)字編碼器相互驗(yàn)證，精準(zhǔn)速度控制。

4、雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):

唯-采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電弱點(diǎn)測試儀器，華測生產(chǎn)的電弱點(diǎn)測試儀器不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng)，它duyou的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。技術(shù)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)。

5、SPM電子升壓技術(shù)：

目前設(shè)備大都采用SPWM電子升壓技術(shù)這-技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn)，精度高。便于維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)是調(diào)壓器wufabini的。

6、氣脹軸安裝整圈周膜：

采用氣脹軸安裝整圈膜安裝方便，最大的優(yōu)勢是可實(shí)現(xiàn)放圈與收圈過程中不產(chǎn)生偏向等。

7、阻尼裝置：

華測開發(fā)的尼阻技術(shù)可防止運(yùn)動(dòng)慣量所產(chǎn)生的膜移動(dòng)過程中的松馳現(xiàn)象。